三維掃描儀技術(shù)一般以數(shù)字化測量設(shè)備的輸出數(shù)據(jù)為原始信息來源。只有在得到要逆向的實體的表面三維信息，才能實現(xiàn)后面的工作，如模型的檢測，復雜曲面的建模、評價、改進和制造。而測量方法的好壞直接影響到對被測實體描述的精確、完整程度，影響到數(shù)字化實體幾何信息的速度，進而影響到重構(gòu)的CAD 曲面、實體模型的質(zhì)量，并最終影響到整個工程的進度和質(zhì)量。因此，在整個的鏈條中，處于整個工程的開始，因此是整個工程的基礎(chǔ)，也是技術(shù)的一個關(guān)鍵技術(shù)部分。

　　三維掃描儀的數(shù)據(jù)采集方法即三維表面數(shù)據(jù)采集方法可以分為接觸式和非接觸式兩大類。接觸式測量方法包括：坐標測量機和層析法。非接觸式測量方法包括：光學測量、超聲波測量、電磁測量等方法。各種測量方法，坐標測量機是一種大型精密的三坐標測量儀器，可以對具有復雜形狀的工件的空間尺寸進行測量。

　　CMM 主要優(yōu)點是測量精度高，適應(yīng)性強，但接觸式測頭測量的致命弱點就是測量速度太慢，測量效率太低，而且對一些軟質(zhì)表面無法進行測量。所以，對于響應(yīng)快速制造有點力不從心。干涉法是通過測量兩束相干光的光程差來計算物體的高度分布，測量精度相當高，但測量范圍小，抗干擾能力弱，不適合測量凹凸變化大的復雜曲面。

　　激光衍射法的情況與干涉法基本相同。層析法是近年來發(fā)展的一種技術(shù)，三維掃描儀將研究的零件原形填充后，采用逐層銑削和逐層光掃描相結(jié)合的方法獲取零件原形不同位置截面的內(nèi)外輪廓數(shù)據(jù)，并將其組合起來獲得零件的三維數(shù)據(jù)。層析法的優(yōu)點在于任意形狀，任意結(jié)構(gòu)零件的內(nèi)外輪廓進行測量，但測量方式是破壞性的。

　　基于光學三角型原理的激光掃描法這種測量方法根據(jù)光學三角型測量原理，以激光作為光源，其結(jié)構(gòu)模式可以分為光點、單線條、多光條等，將其投射到被測物體表面，并采用光電敏感元件在另一位置接收激光的反射能量，根據(jù)光點或光條在物體上成像的偏移，通過被測物體基平面、像點、象距等之間的關(guān)系計算物體的深度信息。

　　基于相位偏移測量原理的莫爾條紋測量方法將光柵條紋投射到被測物體表面，三維掃描儀光柵條紋受物體表面形狀的調(diào)制，其條紋間的相位關(guān)系會發(fā)生變化，數(shù)字圖像處理的方法解析出光柵條紋圖像的相位變化量來獲取被測物體表面的三維信息。距離法是利用光線飛行的時間來計算距離，常采用激光和脈沖光束。比較典型的應(yīng)用就是電子經(jīng)緯儀交繪測量法。

　　非接觸式機構(gòu)光三維掃描儀又名立體視覺測量方法測量是目前最為先進的技術(shù)的數(shù)據(jù)采集方法，根據(jù)同一個三維空間點在不同空間位置的兩個（多個）攝像機拍攝的圖像中的視差，以及攝像機之間位置的空間幾何關(guān)系來獲取該點的三維坐標值。非接觸式機構(gòu)光測量方法可以對處于兩個（多個）攝像機共同視野內(nèi)的目標特征點進行測量，而無須伺服機構(gòu)等掃描裝置。

　　非接觸式機構(gòu)光測量技術(shù)關(guān)鍵是空間特征點在多幅數(shù)字圖像中提取與匹配的精度與準確性等問題。非接觸式機構(gòu)光三維掃描儀有空間編碼的特征的結(jié)構(gòu)光投射到被測物體表面制造測量特征的方法有效解決了測量特征提取和匹配的問題，結(jié)構(gòu)光投影測量法被認為是目前三維形狀測量中最好的方法，它的原理是將具有一定模式的光源，如柵狀光條投射到物體表面，然后用兩個鏡頭獲取不同角度的圖像，通過圖像處理的方法得到整幅圖像上像素的三維坐標，這種非接觸式機構(gòu)光三維掃描儀方法具有速度快、無需運動平臺的優(yōu)點。

　　目前國內(nèi)也在國外非接觸式機構(gòu)光三維掃描儀的基礎(chǔ)上加以改進，制作的非接觸式機構(gòu)光在各類參數(shù)都超越了國外同等設(shè)。

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